CARACTERISTIQUES C-V DES STRUCTURES MIS A BASE DE SEMICONDUCTEUR GaAs PASSIVE PAR (NH4)2S : MODELISATION & SIMULATION (notice n° 232053)
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000 -Label | |
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leader | 01152nam a22001933 4500 |
001 - Numéro de notice | |
Numéro d'identification notice | u85631 |
100 ## - Données générales de traitement | |
données générales de traitement | 04032013f m y0frey50 ba |
200 1# - Titre | |
titre propre | CARACTERISTIQUES C-V DES STRUCTURES MIS A BASE DE SEMICONDUCTEUR GaAs PASSIVE PAR (NH4)2S : MODELISATION & SIMULATION |
type de document | |
Auteur | BELALI Said |
328 #0 - Note | |
détails sur la thèse ou le mémoire dont le titre du diplôme | DOCTORAT |
date du diplôme | 2008 |
345 ## - note | |
numéro d'éditeur | 828 |
596 ## - | |
-- | 5 |
606 1# - sujets | |
sujet | PHYSIQUE |
subdivision du sujet | Physique du solide |
610 0# - sujets | |
sujet | Modélisations, simulation, caractérisations électriques, MIS, MOS, Si3N4, potentiel de surface, états de surface, Simulink, Matlab, PECVD, passivation, modulation, plasma basse fréquence, plasma haute fréquence. |
700 1# - Auteur | |
auteur | BELALI, |
partie du nom autre que l'élément d'entrée | Said |
901 ## - numéro de référence Electre | |
-- | FSB |
-- | M. Mohamed ADDOU Professeur à la Faculté des Sci. Kénitra Président& Rapporteur M. Abdelkrim ELFAJRI Professeur à la Faculté des Sci. Eljadida Rapporteur M. Abdelatif MORSAD Professeur à la Faculté des Sci. B.M’Sik.CASA Rapporteur Mme. Rahma ADHIRI Profes |
-- | |
-- | M. Ahmed FAHLI |
-- | 20-déc.-08 |
949 ## - | |
-- | 004017523 |
-- | FSB |
-- | STACKS |
-- | 828 |
-- | THESE |
999 ## - | |
-- | XX(85631.1) |
-- | AUTO |
-- | 1 |
-- | STACKS |
-- | FSB |
-- | Y |
-- | Y |
-- | THESE |
-- | 10/23/2013 |
-- | .STAFF. 828 |
Propriétaire | dépositaire permanent | niveau de localisation | Code barre | cote | Statut |
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Bibliothèque de la Faculté des Sciences Ben M’Sick | Bibliothèque de la Faculté des Sciences Ben M’Sick | Rez de chaussee | 0410000828 | XX(85631.1) | Empruntable |